Ладутенко Константин
Дата рождения
Мобильный телефон
+79213129085
Рабочий телефон
+79213129085
Email
k.ladutenko@metalab.ifmo.ru
Researcher ID:
Researcher ID в базе данных Web of Science
E-8992-2013
Ссылка на профиль в Google Scholar
Skype:
konstantin.ladutenko
Образование
Январь
2006
-
Январь
0009
Учебное заведение
Санкт-Петербургский Академический университет
Январь
2000
-
Январь
2006
Учебное заведение
Санкт-Петербургский Государственный Политехнический Университет, Физико-Технический факультет
Опыт работы
Январь
2011
-
по настоящее время
Место работы
Унивеститет ИТМО
Январь
2001
-
по настоящее время
Место работы
ФТИ им. А.Ф. Иоффе
Биография
I was involved in a scientific research at high school as an intern at Ioffe Institute, where I got a research position after graduation from the Saint-Petersburg State Polytechnical University. I have a good knowledge of semiconductor physics and a lot of experimental experience with atomic-force microscopy. In 2011, I moved to a position in ITMO University. My research interests are in the areas of numerical methods and simulation in physics, with a focus on Mie theory and stochastic optimization.
CV
Download CV (26.86 КБ)
Papers
Impact Factor
Scientific Journal Ranking
2020
18.
[DOI:
10.1109/comcas44984.2019.8958207
]
17.
[DOI:
10.1016/j.jqsrt.2019.106825
]
[IF:
2.419
, SJR:
0.975
]
2019
16.
[DOI:
10.1002/ente.201900877
]
[IF:
3.024
, SJR:
0.904
]
15.
[DOI:
10.1088/1742-6596/1199/1/012005
]
[IF:
0.360
, SJR:
0.240
]
14.
[DOI:
10.1021/acs.jpcc.8b11271
]
[IF:
4.309
, SJR:
1.652
]
13.
12.
The high-order toroidal moments and anapole states in all-dielectric photonics
[DOI:
10.1002/lpor.201800266
]
[IF:
9.056
, SJR:
3.821
]
2018
11.
[DOI:
10.1021/acsphotonics.8b00900
]
[IF:
6.880
, SJR:
3.516
]
10.
[DOI:
10.1002/adom.201701153
]
[IF:
6.870
, SJR:
2.720
]
2017
9.
[DOI:
10.1016/j.cpc.2017.01.017
]
[IF:
3.635
, SJR:
2.136
]
2015
8.
[DOI:
10.1039/C5NR05468K
]
[IF:
7.367
, SJR:
2.769
]
2014
7.
[DOI:
10.1063/1.4900529
]
[IF:
2.185
, SJR:
0.632
]
2013
6.
[DOI:
10.2528/PIER13031910
]
[IF:
5.590
, SJR:
0.537
]
2012
5.
2010
4.
К вопросу о точности количественных измерений измерений локального поверхностного потенциала
2009
3.
Прямое наблюдение утечек неосновных носителей заряда в действующем лазерном диоде методом сканирующей Кельвин-зонд-микроскопии
2007
2.
[DOI:
10.1063/1.2426175
]
[IF:
2.185
, SJR:
0.632
]
2006
1.
Сканирующая Кельвин зонд микроскопия утечки дырок из активной области работающего инжекционного полупроводникового лазерного диода
Проекты отсутствуют.
