Эдуард Агеев
Основная должность
Основная должность
Postdoc
Должность
- Научный сотрудник
Мобильный телефон
+7 921 382 19 05
Email
eiageev@corp.ifmo.ru
Адрес офиса
Россия, Ломоносова, 9, "Saturn",
Статьи
Impact Factor
Scientific Journal Ranking
2021
18.
Femtosecond Laser Fabrication of Hybrid Metal-Dielectric Structures with Nonlinear Photoluminescence
[DOI:
10.3390/photonics8040121
]
[
IF:
2.676
, SJR:
0.669
]
17.
[DOI:
10.1002/adma.202005886
]
[
IF:
30.849
, SJR:
10.707
, NI:
0,56
]
2020
16.
[DOI:
10.1063/5.0031745
]
[
SJR:
0.190
]
15.
[DOI:
10.1063/5.0032132
]
[
SJR:
0.190
]
14.
[DOI:
10.1063/5.0032118
]
[
SJR:
0.190
]
13.
[DOI:
10.1063/5.0032009
]
[
SJR:
0.190
]
12.
[DOI:
10.1063/5.0031773
]
[
SJR:
0.190
]
11.
[DOI:
10.1088/1742-6596/1461/1/012081
]
[
SJR:
0.227
]
10.
[DOI:
10.1088/1742-6596/1461/1/012172
]
[
SJR:
0.227
]
9.
[DOI:
10.1088/1742-6596/1461/1/012195
]
[
SJR:
0.227
]
8.
Dielectric nanocavity for the emission control of a single-photon source
[DOI:
10.1117/12.2555926
]
7.
[DOI:
10.1117/12.2557228
]
6.
[DOI:
10.1007/s11082-020-02274-z
]
[
IF:
1.842
, SJR:
0.370
]
5.
[DOI:
10.1016/j.optlastec.2020.106131
]
[
IF:
3.867
, SJR:
0.799
]
4.
[DOI:
10.1007/s11082-020-2209-x
]
[
IF:
1.842
, SJR:
0.370
]
2019
3.
[DOI:
10.1039/c9nr08952g
]
[
IF:
6.970
, SJR:
2.396
]
2.
[DOI:
10.1364/ome.10.000029
]
[
IF:
2.673
, SJR:
0.886
]
1.
[DOI:
10.1002/lpor.201800274
]
[
IF:
9.056
, SJR:
3.821
]
Современные методы оптической микро- и спектроскопии (на английском
)
Излучение и подсчет одиночных фотонов (на английском
)
| Название патента | Авторы | Тип | Год |
|---|---|---|---|
| Активная диэлектрическая наноантенна | Эдуард Агеев, Роман Савельев, Илья Шадривов, Артем Ларин, Сергей Макаров, Дмитрий Зуев, Анастасия Залогина | Полезная модель | 2019 |
| Способ цветной маркировки поверхности металла или его сплава лазерным импульсным излучением | Эдуард Агеев | Изобретение | 2017 |
| Способ нанесения изображения на изделия из драгоценных металлов | Эдуард Агеев | Изобретение | 2017 |
| Программа для расчета величин неровностей поверхности и толщин пленок по интерферограммам "Roughness recognition" | Эдуард Агеев | Программа для ЭВМ | 2015 |
