Эдуард Агеев
Ученая степень
Кандидат технических наук
Основная должность
Основная должность
Postdoc
Должность
- Научный сотрудник
Мобильный телефон
+7 921 382 19 05
Email
eduard.ageev@metalab.ifmo.ru
Адрес офиса
Россия, Ломоносова, 9, "Saturn",
ORCID
Номер автора ORCID
0000-0001-5626-7677
Researcher ID
Researcher ID в базе данных Web of Science
k-8511-2013
Scopus Author ID
Номер автора в базе данных Scopus
37067110600
Ссылка на профиль в Google Scholar
Статьи
Impact Factor
Scientific Journal Ranking
2023
38.
Internal structure and quantum efficiency of hybrid metal-dielectric nanoparticles fabricated by femtosecond laser exposure of bi-layer film
[DOI:
10.1117/12.2688987
]
37.
[DOI:
10.1038/s41377-023-01262-8
]
[
IF:
17.455
, SJR:
5.497
]
36.
[DOI:
10.1109/nano58406.2023.10231269
]
35.
[DOI:
10.17586/2220-8054-2023-14-3-349-353
]
[
IF:
0.920
]
34.
Оптические свойства золото-кремниевых структур вулканообразной формы, изготовленных с помощью фемтосекундного лазерного воздействия
[DOI:
10.21883/pjtf.2023.13.55728.19568
]
33.
[DOI:
10.1016/j.jconrel.2023.06.012
]
[
IF:
11.467
, SJR:
1.812
]
32.
[DOI:
10.1016/j.jcis.2023.04.020
]
[
IF:
9.965
, SJR:
1.397
]
31.
[DOI:
10.1021/acsami.2c20619
]
[
IF:
10.383
, SJR:
2.143
]
30.
[DOI:
10.1002/lpor.202200661
]
[
IF:
10.947
, SJR:
3.172
]
2022
29.
[DOI:
10.1515/nanoph-2022-0314
]
[
IF:
7.923
, SJR:
2.124
]
28.
[DOI:
10.1002/adfm.202205859
]
[
IF:
19.924
, SJR:
5.000
]
27.
[DOI:
10.1021/acsanm.2c01878
]
[
IF:
6.140
, SJR:
1.178
]
26.
[DOI:
10.3390/nano12101756
]
[
IF:
5.719
, SJR:
0.839
]
25.
[DOI:
10.1134/s0021364022040014
]
[
IF:
1.400
, SJR:
0.415
]
24.
[DOI:
10.1134/s0021364021230090
]
[
IF:
1.400
, SJR:
0.415
]
2021
23.
[DOI:
10.1002/adfm.202109258
]
[
IF:
19.924
, SJR:
5.000
, NI:
0,27
]
22.
[DOI:
10.1088/1742-6596/2015/1/012082
]
[
SJR:
0.210
]
21.
[DOI:
10.1088/1742-6596/2015/1/012165
]
[
SJR:
0.210
]
20.
[DOI:
10.1088/1742-6596/2015/1/012107
]
[
SJR:
0.210
]
19.
[DOI:
10.1088/1742-6596/2015/1/012071
]
[
SJR:
0.210
]
18.
Femtosecond Laser Fabrication of Hybrid Metal-Dielectric Structures with Nonlinear Photoluminescence
[DOI:
10.3390/photonics8040121
]
[
IF:
2.536
, SJR:
0.558
]
17.
[DOI:
10.1002/adma.202005886
]
[
IF:
32.086
, SJR:
8.663
, NI:
0,56
]
2020
16.
[DOI:
10.1063/5.0031745
]
[
SJR:
0.190
]
15.
[DOI:
10.1063/5.0032132
]
[
SJR:
0.190
]
14.
[DOI:
10.1063/5.0032118
]
[
SJR:
0.190
]
13.
[DOI:
10.1063/5.0032009
]
[
SJR:
0.190
]
12.
[DOI:
10.1063/5.0031773
]
[
SJR:
0.190
]
11.
[DOI:
10.1088/1742-6596/1461/1/012195
]
[
SJR:
0.227
]
10.
[DOI:
10.1088/1742-6596/1461/1/012081
]
[
SJR:
0.227
]
9.
[DOI:
10.1088/1742-6596/1461/1/012172
]
[
SJR:
0.227
]
8.
Dielectric nanocavity for the emission control of a single-photon source
[DOI:
10.1117/12.2555926
]
7.
[DOI:
10.1117/12.2557228
]
6.
[DOI:
10.1007/s11082-020-02274-z
]
[
IF:
2.084
, SJR:
0.396
]
5.
[DOI:
10.1016/j.optlastec.2020.106131
]
[
IF:
3.867
, SJR:
0.799
]
4.
[DOI:
10.1007/s11082-020-2209-x
]
[
IF:
2.084
, SJR:
0.396
]
2019
3.
[DOI:
10.1039/c9nr08952g
]
[
IF:
6.895
, SJR:
2.180
]
2.
[DOI:
10.1364/ome.10.000029
]
[
IF:
3.064
, SJR:
0.948
]
1.
[DOI:
10.1002/lpor.201800274
]
[
IF:
10.655
, SJR:
4.014
]
Современные методы оптической микро- и спектроскопии (in English
)
Излучение и подсчет одиночных фотонов (in English
)
| Название патента | Авторы | Тип | Год |
|---|---|---|---|
| Защитная маркировка | Дмитрий Зуев, Эдуард Агеев, Артем Ларин, Марина Обраменко, Иван Мухин, Алексей Можаров | Полезная модель | 2023 |
| Способ защиты от подделки ценных изделий и контроля их подлинности | Дмитрий Зуев, Эдуард Агеев, Павел Кустов, Елена Петрова, Мартин Сандомирский, Виталий Ярошенко, Артем Ларин | Изобретение | 2022 |
| Активная диэлектрическая наноантенна | Эдуард Агеев, Роман Савельев, Артем Ларин, Сергей Макаров, Дмитрий Зуев, Анастасия Залогина | Полезная модель | 2019 |
| Способ цветной маркировки поверхности металла или его сплава лазерным импульсным излучением | Эдуард Агеев | Изобретение | 2017 |
| Способ нанесения изображения на изделия из драгоценных металлов | Эдуард Агеев | Изобретение | 2017 |
| Программа для расчета величин неровностей поверхности и толщин пленок по интерферограммам "Roughness recognition" | Эдуард Агеев | Программа для ЭВМ | 2015 |
