Артем Дмитриевич Синельник
Ученая степень
Кандидат физико-математических наук
Основная должность
Основная должность
Assistant Professor
Мобильный телефон
+7 966 759 32 25
Email
artem.sinelnik@metalab.ifmo.ru
Адрес офиса
Россия, Ломоносова, 9, "Pegasus",
Ссылка на профиль в Google Scholar
Образование
Сентябрь
2015
-
Август
2017
Учебное заведение
Университет ИТМО
Профессиональная область
Фотонный кристаллы, двухфотонная литография
Полученное звание
Магистр
Тезис
Создание субмикронных структур путем 3D литографии
Сентябрь
2017
-
Декабрь
2020
Учебное заведение
"Физический факультет, Университет ИТМО"
Профессиональная область
Фотонные структуры, квазикристаллы, спектроскопия
Полученное звание
Кандидат физико-математических наук
Тезис
Создание фотонных структур методом лазерной литографии и их спектроскопические исследования
Опыт работы
Январь
2016
-
Январь
2021
Место работы
Университет ИТМО
Должность
Инженер
Профессиональная область
Создание и исследование оптическими методами фотонных структур.
Январь
2021
-
настоящее время
Место работы
Университет ИТМО
Должность
Научный сотрудник
Профессиональная область
Исследования в области активной и перестраиваемой фотоники. Метаповерхности на основе материалов с фазовой памятью, перовскитная фотоника.
Июнь
2021
-
Июль
2023
Место работы
Friedrich Schiller University Jena, Germany
Должность
Post-Doc
Профессиональная область
Активная фотоника. Спектроскопия с временным разрешением (pump-probe spectroscopy). Ультра-быстрое переключение оптических свойств метаповерхностей.
Статьи
Impact Factor
Scientific Journal Ranking
2025
26.
[DOI:
10.1016/j.optmat.2025.116687
]
[
IF:
3.080
, SJR:
0.598
]
2024
25.
[DOI:
10.1515/nanoph-2023-0859
]
[
IF:
7.923
, SJR:
2.124
]
24.
[DOI:
10.1038/s41467-024-46642-9
]
[
IF:
14.919
, SJR:
5.559
]
23.
[DOI:
10.1016/j.apmt.2024.102135
]
22.
[DOI:
10.1088/1361-6463/ad1dbd
]
[
IF:
3.409
, SJR:
0.689
]
2023
21.
[DOI:
10.1016/j.optlastec.2023.110411
]
[
IF:
3.867
, SJR:
0.874
]
20.
[DOI:
10.1109/cleo/europe-eqec57999.2023.10231872
]
19.
[DOI:
10.1002/lpor.202200836
]
[
IF:
10.947
, SJR:
3.172
]
18.
[DOI:
10.1016/j.optlastec.2023.109122
]
[
IF:
3.867
, SJR:
0.874
]
2022
17.
[DOI:
10.1002/lpor.202200295
]
[
IF:
10.947
, SJR:
3.172
]
16.
[DOI:
10.1364/ome.462695
]
[
IF:
3.074
, SJR:
0.751
]
2021
15.
[DOI:
10.1002/lpor.202100253
]
[
IF:
10.947
, SJR:
3.172
]
14.
[DOI:
10.1088/1742-6596/2015/1/012077
]
[
SJR:
0.210
]
13.
[DOI:
10.1088/1742-6596/2015/1/012147
]
[
SJR:
0.210
]
12.
[DOI:
10.1016/j.optlastec.2021.107124
]
[
IF:
3.867
, SJR:
0.799
]
2020
11.
[DOI:
10.1063/5.0032101
]
[
SJR:
0.190
]
10.
[DOI:
10.1002/adom.202001170
]
[
IF:
9.926
, SJR:
2.890
]
2019
9.
[DOI:
10.1007/s42452-019-1220-y
]
8.
[DOI:
10.1103/physrevb.99.174204
]
[
IF:
3.575
, SJR:
1.811
]
2018
7.
[DOI:
10.1088/1742-6596/1092/1/012118
]
[
SJR:
0.241
]
6.
[DOI:
10.1021/acsami.8b09810
]
[
IF:
8.097
, SJR:
2.784
]
5.
[DOI:
10.1063/1.4998059
]
[
SJR:
0.165
]
4.
[DOI:
10.1063/1.4998118
]
[
SJR:
0.165
]
3.
2017
2.
[DOI:
10.7868/S0370274X17060029
]
[
IF:
1.363
, SJR:
0.498
]
1.
[DOI:
DOI: 10.1103/PhysRevA.95.063837
]
[
IF:
2.909
]
Фотоника (in English
)
Патенты отсутствуют
