Julien F. H.
Статьи
Impact Factor
Scientific Journal Ranking
2016
1.
Electron beam induced current microscopy investigation of GaN nanowire arrays grown on Si substrates
[DOI:
10.1016/j.mssp.2016.03.002
]
[
IF:
2.359
, SJR:
0.637
]
Курсы отсутствуют.
Патенты отсутствуют
Новости отсутствуют.