Microwave seminar | 16 July 2026
Алексей Щербаков
Университет ИТМО
Метод моментов для моделирования S-параметров многослойных печатных плат: особенности метода и опыт разработки в рамках индустриального контракта
Every week we will send you an e-mail with a digest of scientific events. Subscribe and wait for an e-mail!
Abstract
В докладе будет представлена обзорная формулировка метода моментов для моделирования S-параметров экранированных многослойных печатных плат, будут обсуждаться особенности и сложности реализации метода, а также представлен опыт разработки соответствующих программных компонент для САПР Гамма.
Last news
-
-
ITMO Scientists Create World’s First Wirelessly Chargeable AA Battery
-
ITMO and Joint Institute for Nuclear Research Launch New Master’s Track in Megascience
-
ITMO Researchers Present World’s First AI Model for Supersensitive Optics Design
-
Compact Silicon Chip by ITMO and PKU Revolutionizes Optical Memory