PeroSeminar | 18 June 2026

В докладе представлены результаты теоретического исследования микроскопии сверхвысокого разрешения с использованием диэлектрических микрочастиц (microsphere-assisted microscopy). Предложена последовательная многоуровневая модель формирования мнимого увеличенного изображения, основанная на расчёте ближнего поля микрочастицы и восстановлении изображения методом обратного распространения волнового фронта. Показано, что механизм сверхразрешения носит комплексный характер и определяется несколькими факторами: эффективным увеличением локальной числовой апертуры, а также эффектами частичной пространственной когерентности, связанными с субволновыми осцилляциями в корреляционной функции излучения.

На основе анализа теории Ми и матричного формализма доказано, что при формировании мнимого увеличенного изображения точечных некогерентных источников разрешающая способность микрочастицы фундаментально ограничена конечным числом возбуждаемых мод. Дополнительно рассмотрены неизлучающие состояния и условия подавления рассеяния, обобщающие условия Керкера, а также предложен метод оптимизации формы частицы на основе обобщённой теории возмущений.